Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований

Свидетельство о присвоении статуса
центра коллективного пользования
уникальным научным оборудованием.

Научный руководитель ЦКП Тиванов Михаил Сергеевич, декан физического факультета

Руководитель ЦКП Баран Людмила Владимировна, кандидат физико-математических наук

Контакты: 220030, Минск,
пр. Независимости, 4, к. 159
тел. (+375 17) 209-54-80,
e-mail: brlv@mail.ru

Центр коллективного пользования уникальным научным оборудованием «Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований» создан на физическом факультете в 1984 г. в целях повышения эффективности научно-исследовательской работы в высших учебных заведениях.

Положение о центре коллективного пользования

Основные направления исследований

• разработка новых технологий получения материалов, в том числе с наноразмерными элементами структуры, с нелинейно-оптическими свойствами;
• направленное модифицирование структуры и свойств материалов;
• исследование структуры, элементного и фазового состава, интегральных и локальных электрических, механических, магнитных, оптических свойств новых материалов;
• голографические методы обработки информации;
• фотофизика и нелинейная лазерная спектроскопия конденсированных сред;
• методы и аппаратно-программные средства спектрально-люминесцентного анализа;
• культивирование клеточных линий и микроорганизмов.

Перечень основных методик измерений

• количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с применением растрового электронного микроскопа;
• определение ориентации кристаллитов, свойств границ зерен, идентификация неизвестных фаз методом дифракции отраженных электронов;
• определение элементного состава поверхности твердотельных структур методом рентгеноспектрального микроанализа;
• трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа;
• определение качественного и количественного фазового состава, степени кристалличности, текстуры, размера кристаллитов и наночастиц, искажений кристаллической решетки материалов методом рентгеновской дифрактометрии;
• исследование электронной и молекулярной структуры наноматериалов, включая биологические объекты, методом спектроскопических измерений (флуоресцентная кинетическая спектроскопия, люминесцентный анализ, рамановская спектроскопия);
• исследование интегральных и локальных электрических и магнитных свойств;
• измерение динамической твердости и микротвердости новых материалов, тонких пленок и покрытий.

Растровый электронный микроскоп LEO - 1455 VP с приставками:

энергодисперсионный безазотный спектрометр Aztec Energy Advanced X-Max 80;
четырехсекционный детектор отраженных электронов 4QBSE;
система дифракции отраженных электронов HKL EBSD Premium System Channel 5.
Год выпуска (модернизации): 2001 (в 2007 г. модернизирован детектором отраженных электронов, в 2008 г. – системой дифракции отраженных электронов, в 2014 г. – безазотным спектрометром).

Основные технические характеристики:

• увеличение от 32 до 300 000 крат;
• разрешение в высоковакуумном режиме для проводящих образцов 3,5 нм, в низковакуумном режиме для непроводящих образцов – 5 нм;
• максимальный размер образца 100 мм;
• диапазон анализируемых элементов от Bе до Pu;
• предел измеряемых концентраций 0,1-100%;
• разрешение по энергии по Mn Kα 123 эВ;
• время получения одной картины Кикучи не более 1 с;
• анализируемый диапазон симметрии кристаллов все группы Лауэ.

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 Pro

Год выпуска (модернизации): 2005.

Основные технические характеристики:

• максимальный размер области сканирования – 100х100 мкм;
• размер образца до 40х40х10 мм;
• разрешение: уровень шума XY — 0,2 нм, Z — 0,02 нм.

Реализованы различные методы измерений и воздействий: туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия (контактная и полуконтактная), электросиловая микроскопия (статическая и динамическая), магнитносиловая микроскопия, режим измерения жесткости и латеральных сил поверхности, нанолитография, спектроскопия.

Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4.13

Год выпуска (модернизации): 1992 (в 2006 г. модернизирован системой компьютерного управления).

Основные технические характеристики:

• диапазон углов 2 Тета от 0 до 164 град;
• скорость съемки дифрактограмм от 1/32 град/мин до 16 град/мин в Cu и Co-излучении;
• размер образца до 20 мм в диаметре;
• пакет программ по обработке полученных данных.

Динамический ультрамикротвердомер SHIMADZU DUH-202

Год выпуска (модернизации): 1999.

Основные технические характеристики:

• инденторы Берковича и Виккерса;
• точность нагружения 1% от заданной нагрузки;
• точность измерения глубины 1 нм;
• величина нагрузки от 0,1 мН до 1961 мН;
• глубина индентирования до 10 мкм.

Фурье - спектрометр VERTEX 70

Год выпуска (модернизации): 2005.

Основные технические характеристики:

• спектральный диапазон 400-10000 см-1;
• спектральное разрешение лучше, чем 0.5 см-1 (с аподизацией);
• фотометрическая точность лучше, чем 0,1 %.

Лаборатория клеточных технологий

Cостав лаборатории клеточных технологий:

• СО₂ инкубатор HERACELL 150 THERMO ;
• центрифуга лабораторная MULTIFUGE 1L THERMO ;
• микроскоп OLYMPUS BX51 с манипулятором SUTTER МР-225 ;
• комплекс для микроэлектродных исследований клеток.

Год выпуска (модернизации): 2007

Основные технические характеристики:

СО2 инкубатор HERAcell 150 Thermo

Центрифуга лабораторная Multifuge 1L Thermo

Микроскоп Olympus BX51 с манипулятором Sutter МР-225

Комплекс для микроэлектродных исследований клеток

Лабораторный комплекс CFHF на базе рефрижератора замкнутого цикла

Год выпуска (модернизации): 2006 (в 2012 г. заменена головка криокуллера и обновлено программное обеспечение, в 2014 г. доукомплектован вибрационным магнетометром, измерительным зондом, насосом для прокачки рабочего газа)

Основные технические характеристики:

• диапазон температур 1,6 – 300 К;
• магнитные поля до 8 Тл;
• область частот от 20 Гц до 30 МГц;
• область частот колебаний образца 1 — 100 Гц;
• чувствительность по магнитному моменту 10^-6 эме;
• точность и воспроизводимость 0,5 %;
• амплитуда переменного поля до 5 мT при 10 Гц.

Комплекс оборудования для пробоподготовки

Cостав комплекса оборудования по пробоподготовке:

• шлифовально-полировальный станок TEGRAPOL-25 ;
• отрезной станок MINITOM ;
• установка для электролитического утонения TENUPOL-5 .

Год выпуска (модернизации): 2006.

Основные технические характеристики:

• скорость вращения полировального диска — 40 – 600 об/мин;
• давление — 10 – 400 Н;
• скорость отрезания — 110 – 420 об/мин;
• точность — 0,01 мм;
• одно- и двухстороннее утонение;
• диаметр образца — 3 мм.

Шлифовально-полировальный станок TegraPol – 25

Отрезной станок Minitom

Установка для электролитического утонения TenuPol-5

Пикосекундный комплекс на базе лазера LS-2151

Год выпуска (модернизации): 2008.

Основные технические характеристики:

• длина волны генерации 532, 1064 нм;
• длительность импульса в режиме мод. добротности 10 — 15 нс; в режиме пассивной синхронизации мод 30 — 40 пс;
• частота повторения импульсов 1 — 10 Гц.

Установка ионного утонения, полировки, очистки PECS 682

Год выпуска (модернизации): 2009.

Основные технические характеристики:

• энергия ионов от 1 до 10 кэВ;
• плотность тока до 10 мА/см²;
• диаметр ионного пучка до 5 мм;
• скорость утонения для W 3 мкм/ч;
• угол наклона образца 0-90 град.

Наносекундный комплекс с параметрическим преобразователем света LT-2215 (PC) на базе лазера LS-2137

Год выпуска (модернизации): 2010.

Основные технические характеристики:

• длина волны генерации 266, 355, 542, 1064 нм;
• длительность импульса в режиме мод. добротности 20 нс;
• частота повторения импульсов 10 Гц.

Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа NANOFINDER

Год выпуска (модернизации): 2011 (в 2012 г. доукомплектован оптической криогенной системой, в 2013 г. – системой вакуумирования и теплоотвода).

Основные технические характеристики:

• 4 лазера с автоматической коммутацией и длинами волн генерации 355 нм, 473 нм, 532 нм, 785 нм;
• поляризатор – призма Глан-Тейлора;
• диапазон сканирования по X-Y-Z не менее 100×100×25 мкм;
• пространственное разрешение по X-Y не хуже 200 нм;
• пространственное разрешение по Z не хуже 500 нм;
• оптический микроскоп: прямой и инвертированный, объективы: ×5, ×10, ×50, ×100;
• рабочий спектральный диапазон 330 – 1100 нм;
• спектральное разрешение до 0.1 нм для нарезной решетки и до 0.01 нм для Эшелле решетки;
• цифровая ПЗС-камера;
• фотоэлектронный умножитель: рабочий спектральный диапазон не менее 300–900 нм, время нарастания выходного сигнала не более 2.5 нс, время отклика не более 25 нс, световая чувствительность анода не менее 2500 А/лм;
• охлаждение до 20 К.

Спектрофотометр Photon RT

Год выпуска (модернизации): 2013.

Основные технические характеристики:

• спектральный диапазон 190-3000 нм;
• спектральное разрешение 190-1000 нм (решетка 600 штр/мм) - 1,8 нм; 1000-3000 нм (решетка 300 штр/мм) -3,6 нм; минимальный шаг сканирования 0,5 нм; воспроизводимость длины волны 0,12 нм; источник излучения: лампа галогенная 12 В, 20 Вт; лампа дейтериевая 35 Вт; шаг перестройки угла поворота столика и фотоприемника 0,1 ° точность установки углов поворота столика образцов 0,05 ° угол расходимости луча 2 °.

Автоматизированная вакуумная установка для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок HHV Auto 500

Год выпуска (модернизации): 2013.

Основные технические характеристики:

• вакуумная технологическая камера: диаметр 500 мм, высота 600 мм, материал камеры - нержавеющая сталь (электрополировка внутренней поверхности);
• система сухой (безмасляной) вакуумной откачки , обеспечивающая степень вакуума в технологической камере 5*10-7 Торр:
  • сухой спиральный насос (скорость откачки не менее 35 м3/ч);
  • турбомолекулярный насос (скорость откачки не менее 1500 л/с);
  • измерение давления в камере широкодиапазонным вакуумметром в диапазоне 1 атм - 1х10-8 Торр.
• два магнетронных иcточника на постоянном и переменном токе:
• магнетронный источник с RF блоком питания (диаметр мишени 75 мм, водяное охлаждение, источник питания 600 Вт, 13.56 МГц, цифровая система управления),
  • магнетронный источник с DC блоком питания (мощность 1.5 кВт, диаметр мишени 75 мм, водяное охлаждение);
  • система напуска технологических газов: аргон, азот, регулировка с помощью цифровых регуляторов расхода;
• два резистивных испарителя;
• вращающийся подложкодержатель.

Установка УИПТ - 001

Год выпуска: 2008

Основные технические характеристики:

УИПТ обеспечивает возвратно-поступательное движение образца с заданной амплитудой и скоростью, измеряя при этом коэффициент трения между индентором и поверхностью образца. Диапазон возможных размеров образца:

• минимальный размер образца — 6х4х1 ммж;
• максимальный размер образца — 20х35х8 мм;
• тип индентора — сферический;
• радиус закругления индентора — от 0,75 до 3 мм;
• нагрузка на индентор — от 0,01 до 0,2 Н;
• скорость перемещения образца — от 0,04 до 4 мм/с, длина трека износа — от 5 мм до 20 мм.

Лазерный атомно - эмиссионный многоканальный спектрометр ЛАЭМС LSS-1

Год выпуска: 2007.

Основные технические характеристики:

• длина волны излучения — 1064 нм;
• частота повторения импульсов — 10 Гц;
• длительность импульса — 15 нс;
• энергия накачки — 8–20 Дж;
• энергия лазерного импульса — 10–100 мДж;
• межимпульсный временной интервал — 0–100 мкс;
• шаг межимпульсного сдвига — 1 мкс;
• фокусное расстояние — 100 мм;
• размер пятна фокусировки — 50 мкм;
• диапазон анализируемых длин волн — 190–800 нм;
• разрешение по спектру — 0,1 нм;
• предельная чувствительность на содержание элементов в образце 10^-6–10^-5%;
• количество определяемых элементов — ≤ 90;
• время анализа — 3 мин.