Межвузовский центр обслуживания научных исследований

Анищик Виктор Михайлович
Научный руководитель ЦКП Анищик Виктор Михайлович, доктор физико-математических наук, профессор

Баран Людмила Владимировна
Руководитель ЦКП Баран Людмила Владимировна, кандидат физико-математических наук

Контакты: 220030, Минск,
пр. Независимости, 4, к. 159
тел. (+375 17) 209-54-80,
e-mail: brlv@mail.ru

Центр коллективного пользования уникальным научным оборудованием «Белорусский межвузовский центр обслуживания научных исследований» создан на физическом факультете в 1984 г. в целях повышения эффективности научно-исследовательской работы в высших учебных заведениях.

Основные направления исследований

  • разработка новых технологий получения материалов, в том числе с наноразмерными элементами структуры, с нелинейно-оптическими свойствами;
  • направленное модифицирование структуры и свойств материалов;
  • исследование структуры, элементного и фазового состава, интегральных и локальных электрических, механических, магнитных, оптических свойств новых материалов;
  • голографические методы обработки информации;
  • фотофизика и нелинейная лазерная спектроскопия конденсированных сред;
  • методы и аппаратно-программные средства спектрально-люминесцентного анализа;
  • культивирование клеточных линий и микроорганизмов.

Перечень основных методик измерений

  • количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с применением растрового электронного микроскопа;
  • определение ориентации кристаллитов, свойств границ зерен, идентификация неизвестных фаз методом дифракции отраженных электронов;
  • определение элементного состава поверхности твердотельных структур методом рентгеноспектрального микроанализа;
  • трехмерные измерения линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа;
  • определение качественного и количественного фазового состава, степени кристалличности, текстуры, размера кристаллитов и наночастиц, искажений кристаллической решетки материалов методом рентгеновской дифрактометрии;
  • исследование электронной и молекулярной структуры наноматериалов, включая биологические объекты, методом спектроскопических измерений (флуоресцентная кинетическая спектроскопия, люминесцентный анализ, рамановская спектроскопия);
  • исследование интегральных и локальных электрических и магнитных свойств;
  • измерение динамической твердости и микротвердости новых материалов, тонких пленок и покрытий.

ОСНОВНОЕ НАУЧНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ

Растровый электронный микроскоп LEO - 1455 VP с приставками:

Растровый электронный микроскоп LEO - 1455 VP

энергодисперсионный безазотный спектрометр Aztec Energy Advanced X-Max 80;
четырехсекционный детектор отраженных электронов 4QBSE;
система дифракции отраженных электронов HKL EBSD Premium System Channel 5.
Год выпуска (модернизации): 2001 (в 2007 г. модернизирован детектором отраженных электронов, в 2008 г. – системой дифракции отраженных электронов, в 2014 г. – безазотным спектрометром).

Основные технические характеристики:

  • увеличение от 32 до 300 000 крат;
  • разрешение в высоковакуумном режиме для проводящих образцов 3,5 нм, в низковакуумном режиме для непроводящих образцов – 5 нм;
  • максимальный размер образца 100 мм;
  • диапазон анализируемых элементов от Bе до Pu;
  • предел измеряемых концентраций 0,1-100%;
  • разрешение по энергии по Mn Kα 123 эВ;
  • время получения одной картины Кикучи не более 1 с;
  • анализируемый диапазон симметрии кристаллов все группы Лауэ.
 
 

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 Pro

Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 Pro

Год выпуска (модернизации): 2005.

Основные технические характеристики:

  • максимальный размер области сканирования – 100х100 мкм;
  • размер образца до 40х40х10 мм;
  • разрешение: уровень шума XY — 0,2 нм, Z — 0,02 нм.

Реализованы различные методы измерений и воздействий: туннельная микроскопия, атомно-силовая микроскопия (контактная и полуконтактная), электросиловая микроскопия (статическая и динамическая), магнитносиловая микроскопия, режим измерения жесткости и латеральных сил поверхности, нанолитография, спектроскопия.

 
 

Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4.13

Рентгеновский дифрактометр ДРОН 4.13

Год выпуска (модернизации): 1992 (в 2006 г. модернизирован системой компьютерного управления).

Основные технические характеристики:

  • диапазон углов 2 Тета от 0 до 164 град;
  • скорость съемки дифрактограмм от 1/32 град/мин до 16 град/мин в Cu и Co-излучении;
  • размер образца до 20 мм в диаметре;
  • пакет программ по обработке полученных данных.
 
 

Динамический ультрамикротвердомер SHIMADZU DUH-202

Динамический ультрамикротвердомер SHIMADZU DUH-202

Год выпуска (модернизации): 1999.

Основные технические характеристики:

  • инденторы Берковича и Виккерса;
  • точность нагружения 1% от заданной нагрузки;
  • точность измерения глубины 1 нм;
  • величина нагрузки от 0,1 мН до 1961 мН;
  • глубина индентирования до 10 мкм.
 
 

Фурье - спектрометр VERTEX 70

Фурье- спектрометр VERTEX 70

Год выпуска (модернизации): 2005.

Основные технические характеристики:

  • спектральный диапазон 400-5000 см-1;
  • спектральное разрешение лучше, чем 0.5 см-1 (с аподизацией);
  • фотометрическая точность лучше, чем 0,1 %.
 
 

Лаборатория клеточных технологий

Cостав лаборатории клеточных технологий:

  • СО2 инкубатор HERACELL 150 THERMO ;
  • центрифуга лабораторная MULTIFUGE 1L THERMO ;
  • микроскоп OLYMPUS BX51 с манипулятором SUTTER МР-225 ;
  • комплекс для микроэлектродных исследований клеток.

Год выпуска (модернизации): 2007

Основные технические характеристики:

  • степень очистки воздуха не хуже 99,99% (0,3 мкм);
  • инкубация t = 5 — 50 C, CO2 = 0 — 20 %, O2 = 3-90 %, Hum= 60 — 95 % rH;
  • взвешивание 0 — 1 кг, точность 0,1 мкг;
  • скорость центрифугирования 15000 оборотов;
  • манипулирование не хуже 2 мкм;
  • фиксация тока не хуже 10 мкА;
  • фиксация потенциала не хуже 1 мВ;
  • внутриклеточный потенциал 0 — 10 кГц, 0 — 1 В, шум <5 мкВ;
  • внеклеточный потенциал 0 — 10 кГц, 0 — 10 мВ, шум <5 мкВ.
  • СО2 инкубатор HERAcell 150 Thermo

     

    Центрифуга лабораторная Multifuge 1L Thermo

    Микроскоп Olympus BX51 с манипулятором Sutter МР-225

     

    Комплекс для микроэлектродных исследований клеток

     
     

    Лабораторный комплекс CFHF на базе рефрижератора замкнутого цикла

    Лабораторный комплекс CFHF на базе рефрижератора замкнутого цикла

    Год выпуска (модернизации): 2006 (в 2012 г. заменена головка криокуллера и обновлено программное обеспечение, в 2014 г. доукомплектован вибрационным магнетометром, измерительным зондом, насосом для прокачки рабочего газа)

    Основные технические характеристики:

    • диапазон температур 1,6 – 300 К;
    • магнитные поля до 8 Тл;
    • область частот от 20 Гц до 30 МГц;
    • область частот колебаний образца 1 — 100 Гц;
    • чувствительность по магнитному моменту 10-6 эме;
    • точность и воспроизводимость 0,5 %;
    • амплитуда переменного поля до 5 мT при 10 Гц.
     
     

    Комплекс оборудования для пробоподготовки

    Cостав комплекса оборудования по пробоподготовке:

    • шлифовально-полировальный станок TEGRAPOL-25 ;
    • отрезной станок MINITOM ;
    • установка для электролитического утонения TENUPOL-5 .

    Год выпуска (модернизации): 2006.

    Основные технические характеристики:

    • скорость вращения полировального диска — 40 – 600 об/мин;
    • давление — 10 – 400 Н;
    • скорость отрезания — 110 – 420 об/мин;
    • точность — 0,01 мм;
    • одно- и двухстороннее утонение;
    • диаметр образца — 3 мм.

    Шлифовально-полировальный станок TegraPol – 25

     

    Отрезной станок Minitom

    Установка для электролитического утонения TenuPol-5

     
     

    Пикосекундный комплекс на базе лазера LS-2151

    Пикосекундный комплекс на базе лазера LS-2151

    Год выпуска (модернизации): 2008.

    Основные технические характеристики:

    • длина волны генерации 532, 1064 нм;
    • длительность импульса в режиме мод. добротности 10 — 15 нс; в режиме пассивной синхронизации мод 30 — 40 пс;
    • частота повторения импульсов 1 — 10 Гц.
     
     

    Установка ионного утонения, полировки, очистки PECS 682

    Установка ионного утонения, полировки, очистки PECS 682

    Год выпуска (модернизации): 2009.

    Основные технические характеристики:

    • энергия ионов от 1 до 10 кэВ;
    • плотность тока до 10 мА/см2;
    • диаметр ионного пучка до 5 мм;
    • скорость утонения для W 3 мкм/ч;
    • угол наклона образца 0-90 град.
     
     

    Наносекундный комплекс с параметрическим преобразователем света LT-2215 (PC) на базе лазера LS-2137

    Наносекундный комплекс с параметрическим преобразователем света LT-2215 (PC)

    Год выпуска (модернизации): 2010.

    Основные технические характеристики:

    • длина волны генерации 266, 355, 542, 1064 нм;
    • длительность импульса в режиме мод. добротности 20 нс;
    • частота повторения импульсов 10 Гц.
     
     

    Спектрально-аналитический комплекс на основе сканирующего конфокального микроскопа NANOFINDER

    Сканирующий конфокальный микроскоп NANOFINDER

    Год выпуска (модернизации): 2011 (в 2012 г. доукомплектован оптической криогенной системой, в 2013 г. – системой вакуумирования и теплоотвода).

    Основные технические характеристики:

    • 4 лазера с автоматической коммутацией и длинами волн генерации 355 нм, 473 нм, 532 нм, 785 нм;
    • поляризатор – призма Глан-Тейлора;
    • диапазон сканирования по X-Y-Z не менее 100×100×25 мкм;
    • пространственное разрешение по X-Y не хуже 200 нм;
    • пространственное разрешение по Z не хуже 500 нм;
    • оптический микроскоп: прямой и инвертированный, объективы: ×5, ×10, ×50, ×100;
    • рабочий спектральный диапазон 330 – 1100 нм;
    • спектральное разрешение до 0.1 нм для нарезной решетки и до 0.01 нм для Эшелле решетки;
    • цифровая ПЗС-камера;
    • фотоэлектронный умножитель: рабочий спектральный диапазон не менее 300–900 нм, время нарастания выходного сигнала не более 2.5 нс, время отклика не более 25 нс, световая чувствительность анода не менее 2500 А/лм;
    • охлаждение до 20 К.
     
     

    Спектрофотометр Photon RT

    Год выпуска (модернизации): 2013.

    Основные технические характеристики:

    • спектральный диапазон 190-3000 нм;
    • спектральное разрешение 190-1000 нм (решетка 600 штр/мм) - 1,8 нм; 1000-3000 нм (решетка 300 штр/мм) -3,6 нм; минимальный шаг сканирования 0,5 нм; воспроизводимость длины волны 0,12 нм; источник излучения: лампа галогенная 12 В, 20 Вт; лампа дейтериевая 35 Вт; шаг перестройки угла поворота столика и фотоприемника 0,1 ° точность установки углов поворота столика образцов 0,05 ° угол расходимости луча 2 °.
     
     

    Автоматизированная вакуумная установка для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок HHV Auto 500

    Автоматизированная вакуумная установка для ионно-плазменного нанесения нанокомпозитных покрытий и тонких пленок HHV Auto 500

    Год выпуска (модернизации): 2013.

    Основные технические характеристики:

    • вакуумная технологическая камера: диаметр 500 мм, высота 600 мм, материал камеры - нержавеющая сталь (электрополировка внутренней поверхности);
    • система сухой (безмасляной) вакуумной откачки , обеспечивающая степень вакуума в технологической камере 5*10-7 Торр:
      • сухой спиральный насос (скорость откачки не менее 35 м3/ч);
      • турбомолекулярный насос (скорость откачки не менее 1500 л/с);
      • измерение давления в камере широкодиапазонным вакуумметром в диапазоне 1 атм - 1х10-8 Торр.
    • два магнетронных иcточника на постоянном и переменном токе:
    • магнетронный источник с RF блоком питания (диаметр мишени 75 мм, водяное охлаждение, источник питания 600 Вт, 13.56 МГц, цифровая система управления),
      • магнетронный источник с DC блоком питания (мощность 1.5 кВт, диаметр мишени 75 мм, водяное охлаждение);
      • система напуска технологических газов: аргон, азот, регулировка с помощью цифровых регуляторов расхода;
    • два резистивных испарителя;
    • вращающийся подложкодержатель.
     
     

    Установка УИПТ - 001

    Установка УИПТ-001

    Год выпуска: 2008

    Основные технические характеристики:

    УИПТ обеспечивает возвратно-поступательное движение образца с заданной амплитудой и скоростью, измеряя при этом коэффициент трения между индентором и поверхностью образца. Диапазон возможных размеров образца:

    • минимальный размер образца — 6х4х1 ммж;
    • максимальный размер образца — 20х35х8 мм;
    • тип индентора — сферический;
    • радиус закругления индентора — от 0,75 до 3 мм;
    • нагрузка на индентор — от 0,01 до 0,2 Н;
    • скорость перемещения образца — от 0,04 до 4 мм/с, длина трека износа — от 5 мм до 20 мм.
     
     

    Лазерный атомно - эмиссионный многоканальный спектрометр ЛАЭМС LSS-1

    Лазерный атомно - эмиссионный многоканальный спектрометр ЛАЭМС LSS-1

    Год выпуска: 2007.

    Основные технические характеристики:

    • длина волны излучения — 1064 нм;
    • частота повторения импульсов — 10 Гц;
    • длительность импульса — 15 нс;
    • энергия накачки — 8–20 Дж;
    • энергия лазерного импульса — 10–100 мДж;
    • межимпульсный временной интервал — 0–100 мкс;
    • шаг межимпульсного сдвига — 1 мкс;
    • фокусное расстояние — 100 мм;
    • размер пятна фокусировки — 50 мкм;
    • диапазон анализируемых длин волн — 190–800 нм;
    • разрешение по спектру — 0,1 нм;
    • предельная чувствительность на содержание элементов в образце 10-6–10-5%;
    • количество определяемых элементов — ≤ 90;
    • время анализа — 3 мин.
     
     
    Русский