Система для определения латеральной однородности солнечных элементов:
Назначение:
-
регистрация латерального распределения фотоЭДС/фототока, индуцированного световым лучом;
-
регистрация латерального распределения нагрева (температуры) при пропускании через исследуемый элемент прямого или обратного тока.
Технические характеристики:
-
лазерные светодиоды на длины волн генерации 405, 532, 650 и 905 нм со встроенными фокусирующими системами (диаметр светового пятна на поверхности исследуемого СЭ до 0,5 мм);
-
ИК-пирометр для бесконтактного измерения температуры с точностью 0,1 °С и пространственным разрешением до 1,0 мм;
-
размеры рабочего стола 100 мм × 100 мм;
-
максимальное перемещение рабочего стола 200 мм × 200 мм с минимальным шагом 25 мкм.
Русский